光学微纳检测技术论坛
论坛背景
随着科技的进步和持续发展,微纳技术已经成为了现代工业界的热点领域,也成为衡量国家尖端科学技术水平的指标之一,检测技术与微纳加工技术相辅相成,是加工精度的重要保障。智能制造离不开质量控制,质量是工业制造企业的生命力,而优化质量管理是提升质量竞争力的关键,光学检测则是工业制造过程中产品质量、精度和性能等方面的重要保证。在智能制造时代,光学检测具有非常大的发展潜力和应用前景。
光学微纳检测技术论坛 将于2024年3月21日在上海新国际博览中心与2024慕尼黑上海光博会同期召开,会议聚焦基于智能制造领域中的光学微纳检测技术,为该领域专家学者和行业专业参会代表提供一个交流和学习的平台。
论坛信息
时间: 2024年3月21日
地点: 上海新国际博览中心 W4馆一楼M6会议室
费用: 免费
主办单位
中国光学学会光学测试专业委员会
慕尼黑博览集团
承办单位
南京理工大学
先进固体激光工信部重点实验室
慕尼黑展览(上海)有限公司
大会主席
沈华 教授,南京理工大学
韩冰 研究员,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
谈宜东 教授,清华大学
主题
微纳结构的光学精密检测技术
论坛日程
- 09:00-10:00
注册签到
- 10:00-10:25
袁群,南京理工大学,教授
演讲题目: 微结构特征参数的光学显微无损测量方法
- 10:25-10:50
朱金龙,华中科技大学,教授
演讲题目: “非典型”光学相位成像及其在工业精密量测中的运用
- 10:50-11:15
胡春光,天津大学,教授/精密仪器与光电子工程学院副院长
演讲题目: 微纳米薄膜光谱测试技术开发与应用研究
- 11:15-11:40
万新军,苏州瑞霏光电科技有限公司,总经理
演讲题目: 面向晶圆微纳制造的三维检测仪器方案介绍
- 11:40-12:05
于占江,长春理工大学 跨尺度微纳制造教育部重点实验室,副研究员
演讲题目: 微型刀具光学对刀检刀技术研究
- 12:05-14:00
午餐
- 14:00-14:25
谷洪刚,华中科技大学,教授
演讲题目: 高分辨成像穆勒矩阵椭偏仪及其纳米测量应用
- 14:25-14:50
熊英,国防科技大学,博士
演讲题目: 基于新型多维信息感知微纳结构的红外探测技术
- 14:50-15:15
孟浩然,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,研究员
演讲题目: 基于部分相干光数字全息的晶圆结构检测
- 15:15-15:40
侯溪,中国科学院光电技术研究所,研究员
演讲题目: 超精密光学面形干涉检测技术现状、发展趋势和挑战
- 15:40-16:05
苏榕,中国科学院上海光学精密机械研究所,研究员
演讲题目: 基于白光干涉的微纳表面形貌测量
注:会议议程以当天通告为准
参会咨询
慕尼黑展览(上海)有限公司
联系人:Grace Qu(瞿颖)
电话:+86-21-2020 5543
邮箱:grace.qu@mm-sh.com