SWIR（短波红外）成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方法来保证产品质量，包括检查包装中的液体质量，检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外，还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。将SWIR成像方式集成到产线中需要高行频，高灵敏度的相机，针对这些应用，滨松目前正是推出了新型C15333-10EInGaAs线阵扫描相机。

产品特征：

● SWIR高灵敏度，覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围

● 大视场高分辨率，1024像素线阵

● 高行频输出，最大线路速率：40 kHz

● 紧凑轻巧的设计：49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.)，

● 小巧轻便，重量约250克

● 高质量的图像以及优秀的矫正功能

●GigE Vision接口

产品应用：

● 食品和农产品（损坏检查，质量筛选，材料歧视等）

● 半导体（硅晶片图案检查，EL / PL的太阳能电池检查等）

● 工业（水分，泄漏检测，容器检查等）