S mart 2是市场上独有的干涉+共聚焦测量头,当客户对横向分辨率、准确性和重复性有高要求的标准时,面测量是重要的测量技术。强大的功能和紧凑的设计使其成为光学领域的重要突破。为了易于集成,测量头包含了计算核心及所有电子设备。除了干涉测量(CSI),Smart2还拥有另外两项光学成像技术:Ai多焦面叠加和共聚焦,以允许客户使用最适合测量技术进行扫描。
S mart 2是市场上独有的干涉+共聚焦测量头,当客户对横向分辨率、准确性和重复性有高要求的标准时,面测量是重要的测量技术。强大的功能和紧凑的设计使其成为光学领域的重要突破。为了易于集成,测量头包含了计算核心及所有电子设备。除了干涉测量(CSI),Smart2还拥有另外两项光学成像技术:Ai多焦面叠加和共聚焦,以允许客户使用最适合测量技术进行扫描。
慕尼黑展览(上海)有限公司
上海市浦东新区世纪大道1788-1800号陆家嘴金控广场T1塔楼11层
邮编 200120
电话: | +86 21 2020 5500 |
传真: | +86 21 2020 5688 |