S mart 2是市场上独有的干涉+共聚焦测量头，当客户对横向分辨率、准确性和重复性有高要求的标准时，面测量是重要的测量技术。强大的功能和紧凑的设计使其成为光学领域的重要突破。为了易于集成，测量头包含了计算核心及所有电子设备。除了干涉测量（CSI)，Smart2还拥有另外两项光学成像技术：Ai多焦面叠加和共聚焦，以允许客户使用最适合测量技术进行扫描。