倍频偏振测试仪用于测量非线性光学材料倍频过程对输入光偏振的响应,可适用于非线性光学晶体、薄膜材料、纳米线等透光或低透光材料。同时可实时显示待测非线性晶体采用了何种相位匹配方式,间接测量材料二阶非线性系数。
倍频偏振测试仪用于测量非线性光学材料倍频过程对输入光偏振的响应,可适用于非线性光学晶体、薄膜材料、纳米线等透光或低透光材料。同时可实时显示待测非线性晶体采用了何种相位匹配方式,间接测量材料二阶非线性系数。
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