特点:

适合光束： 3 m ~ 45 mm

分辨率： 0.5 m 或 0.5 %

波长范围190 nm ~ 4 ?m

M2 测量组件可选

ISO 11146 标准

适用于有限空间的狭窄探针

可前部固定

宽动态范围

强大直观的软件

可升级, BeamScope-P7 连接至 USB 2.0

实时测量:

X-Y 剖面测量

发散角

椭圆率，面心，高斯拟合

相对功率

典型应用

激光/半导体激光器特性测试

激光器组件的研发，校准，制造过程中的质量监测

激光器和激光器适用

- 晶圆/晶片特性测试

- 激光打印，打标

- 激光医疗

- 条形码扫描 … 等.

技术参数 :

波长范围: 190-1100 nm, 800-1800 nm

新热释电材料: .190-50 μm

分辨率: 0.1 μm

最小光束: 0.5 μm

扫描区域: 5 x 7 mm- 硅, 3 mm- 锗

二维平台: 23 x 43 mm

可选附件

M2 测量附件-USB 2.0

UV - IR 可选 190 ~ 4 μm

二维扫描平台，可分析区域23 x 45 mm