ARMS 显微角分辨光谱仪支持微米级样品全自动角分辨多模式光谱测量。得益于优秀的色差、像差控制及分波段的光路设计，ARMS 可在显微尺度、400~1700nm 和 0.1° 角分辨率的能力下，同时获得角度 (k) 、频率 (ω)、光谱 (λ) 完整信息，为您在光子晶体、拓扑光子学、超构材料和光-物质强耦合等研究领域提供卓越的解决方案。