1. 概述

EW1000 是一款高精度、宽光谱专用波片检测仪。

EW1000 采用国际先进的椭偏光学调制测量原理、专

门用于波片的全面质量检测，如相位延迟差、快慢轴、

透射率测量。

EW1000 适用于波片生产过程中的质量监控、质量终

检、以及新型波片研发中。

1.1. 技术特点

（1） 快速、精确的测量与分析

（2） 光谱范围根据配置可选，从紫外到近红外

（3） ETEW 功能强大的测量与分析软件

（4） ETEW 向导设计，简化操作，适合新手和专家

1.2. 基本功能

（1） 波片相位延迟差检测

（2） 波片快慢轴方位角检测

（3） 波片总透过率检测

（4） 波片快慢轴透过率检测

（5） 波片均匀性检测

（6） 波片快慢轴方位标记*1）

（7） 偏振片消光比、透光轴方位、透射率检测*2）

（8） 旋光片旋向、旋光度、透射率检测*2）

备注：

*1) 为扩展功能，可选购相关配件。

*2) 为高级扩展功能，可在标准机型上升级，或可选购EPC 系列多功能偏振器件检测仪。

1.3. 应用范围

适用于：

（1） 波片生产中的过程质量控制，极大地提高产品一次合格率。

（2） 波片生产中的快慢轴标记。

（3） 波片入库的高标准终检。

（4） 波片的性能特性研究、新型相位延迟片的研发。

（5） 相位延迟膜的测量。

（6） 偏振光学系统中高质量器件的筛选和优化，提高产品整体品质。

可检测的样品种类：

（1） 各种原理制造的波片：

 光学波片：如，相位延迟片单片、组合波片

 电光波片：如，液晶相位延迟器

（2） 单波长或消色差波片

（3） 单级或多级

（4） 单个裸片或在基板上的波片

2. 技术优势

（1） 非接触、非破坏性：利用光波进行非接触测量，对样品无任何破坏性；

（2） 测量速度快：秒级完成一次波片位相延迟差测量；

（3） 检测灵敏度高：位相延迟精度优于λ/1000；

（4） 宽光谱范围：仪器光谱从可见到红外，适用于绝大多数单波长波片以及消

色差波片检测；

（5） 明确判断快慢轴：可明确区分快慢轴，避免混淆；

（6） 生产过程与基板一同检测：波片生产过程中，样品可在基板上进行检测，

检测过程无需人工干预；

（7） 一键式操作：只在软件点击一个按钮，即可完成整个测量过程。