动态干涉仪

产品类别:光学测量系统 > 半自动化激光测试测量系统
产品属性:新品(非首发)
应用领域:电气工程、电子(其他)、半导体、航天/航空、新能源/锂电、光学

动态干涉仪结构紧凑,重量轻,数据采集时间35us,分辨率2448*2048 Pixel,12bit;用于球面及非球面光学元件面形检测,测量大型聚焦光学系统,以及原位过程控制。

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