MESO 计量系统是应对光学计量领域众多挑战的一站式解决方案。车间测量可确保在生产线旁对平面光学器件进行质量控制测试和现场过程控制。

独特的仪器可在多个不同波长下进行测量，且不会产生色差，并可在不降低分辨率的情况下对光学器件的整个范围进行表征。

MESO™ 充满创新：

- LIFT 增强型高波前传感分辨率

- 正在申请专利的 POP 程序，用于测试（薄）平面平行光学器件

- Spot Tracker™ 专利技术可对倾斜和波前进行绝对测量。